|
||||
|
||||
АЦТЕК – новая программная оболочка для электронно-зондового микроанализа на базе ОС ОС Windows 7 (64 бит) |
||||
|
||||
|
||||
АЦТЕК …
Вы еще не видели столь мощную и гибкую систему анализа материалов!
АЦТЕК высвобождает потенциал последних поколений SDD-детекторов большой площади и быстрых камер EBSD.
Создан на основе 40-летнего опыта разработки систем микроанализа и с учетом мнения самого большого в мире микроаналитического сообщества!
АЦТЕК – это все то, что Вы могли бы ожидать от Oxford Instruments.
Только лучше.
Подробности можно узнать ЗДЕСЬ |
|
|||
ИНКА - универсальная платформа для электронно-зондового микроанализа, теперь на базе ОС Windows 7 (64 бит) |
||||
|
||||
|
Система
ИНКА компании Oxford Instruments – надежная и наиболее
распространенная в мире платформа электронно-зондового микроанализа для
растровых и просвечивающих электронных микроскопов
АЦТЕК и ИНКА могут работать совместно на одном и том же ПК..
Современное программное обеспечение и передовые технологии производства детекторов для энергодисперсионного (ЭДС) и волнодисперсионного (ВДС) микроанализа, а также анализа дифракции отраженных электронов (ДОЭ/EBSD) интегрированы на базе единой платформы ИНКА.
Подробности можно узнать ЗДЕСЬ |
|||
X-MAX – новое поколение энергодисперсионных детекторов с уникальными характеристиками для РЭМ и ПЭМ |
||||
|
||||
С детекторами X-MAXN 150мм2 больше не нужно подстраивать условия наблюдения в электронном микроскопе под характеристики детектора ЭДС – получайте изображение наилучшего качества при малых токах зонда, а точный и быстрый микроанализ теперь возможен при любых условиях
· SDD детекторы X-Max и X-ACT с активной площадью кристаллов, на выбор – 10, 20, 50, 80, 150мм2 · Внешний диаметр держателя детектора не зависит от площади кристаллов и позволяет максимально приблизиться к образцу · Гарантированные характеристики разрешения по энергии не зависят от площади кристаллов · Определение любых элементов от бериллия · Не требуют жидкого азота для охлаждения – только подключение к электроэнергии · Охлаждение по первому требованию, за секунды
Подробности можно узнать ЗДЕСЬ |
||||
INCA Wave - Оборудование и программы для волнодисперсионного (ВДС) микроанализа |
||||
|
||||
INCA Wave – лучший в мире волнодисперсионный спектрометр, специально сконструированный для точного количественного анализа химического состава при установке на РЭМ.
· Микроанализ
приблизительно в десять раз более чувствительный по сравнению с ЭДС · Анализ
элементов-примесей (< 0.1 - <0.01%) · Спектральное
разрешение от 2-3 до 50 эВ – на порядок лучше ЭДС · Разделение близко
расположенных пиков · Точная
идентификация пиков · Наилучшая
чувствительность для анализа легких элементов · Картирование распределения элементов с наилучшим отношением пик/фон Подробности можно узнать ЗДЕСЬ |
||||
AZtecHKL – система анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ – EBSD) |
||||
|
||||
AZTEC HKL – система анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ - EBSD) для изучения структуры и текстуры материалов.
AZTEC Synergy – интегрированная система на базе детекторов ЭДС и EBSD.
· Удобный и простой в использовании пользовательский интерфейс · Возможность одновременного использования методов ДОРЭ и ЭДС микроанализа для автоматической идентификации фаз и картирования (карты распределения фаз, карты ориентации кристаллитов, карты распределения элементов) · В каждой точке карты осуществляется накопление полного спектра ЭДС и картины ДОРЭ.
Подробности можно узнать ЗДЕСЬ |
|
|||
OMNIPROBE – устройства и системы наноманипуляции |
||||
|
||||
Omniprobe, Inc. - подразделение группы компаний Oxford Instruments - лидер в производстве принадлежностей к электронным и ионным микроскопам для нанотехнологических лабораторий.
Оборудование Omniprobe включает:
· Наноманипуляторы AutoProbe™ · Газовые инжекционные системы OmniGIS™ · Системы перемещения и хранения образцов в контролируемой среде - SST™, GLL™ · Системы подготовки образцов для ПЭМ - Short-Cut™
Подробности можно узнать ЗДЕСЬ |
|
|||
|
||||
Московское представительство Oxford Instruments 105005 Москва, Денисовский пер. 26 тел. +(495) 933 51 23
|
||||
Московский офис компании представляет подразделение Oxford Instruments NanoAnalysis и специализируется исключительно на продвижении и поддержке приборов для электронно-зондового микроанализа |
||||
© COPYRIGHT STATEMENT REGULATORY INFORMATION TERMS & CONDITIONS PRIVACY ETHICAL POLICY DISCLAIMER |
||||